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熱釋光讀出器線性加熱方式可分為哪幾步驟呢?

更新時間:2022-08-30      點擊次數(shù):809
 
  熱釋光讀出器的問世在經(jīng)過多年以來的實踐過程現(xiàn)已證明,與傳統(tǒng)劑量測量技術(shù)相比,略勝1籌,不論是確還是質(zhì)量上都有的優(yōu)勢,尤其在確定測量病人的吸收劑量方面,熱釋光劑量測量技術(shù)是一種更有效的方法,目前這項技術(shù)廣泛應(yīng)用于環(huán)境放射性監(jiān)測、輻照食品、考古斷代和科研等很多領(lǐng)域。
  在許多用于科學(xué)研究及常規(guī)測量中均采用線性升溫法,該方法主要用以測量熱釋光磷光體與探測器的熱釋發(fā)光曲線。也可用于繪制光輸出量與時間的關(guān)系曲線。線性升溫段(其斜率是可變的)之后,是一個恒溫段,可以將該恒溫段的高度和寬度設(shè)置在讀出器的面板上,選擇特定的溫度(或時間)間隔對發(fā)光信號積分。線性加熱方式對T(t)函數(shù)的要求就是,它應(yīng)具有高度的重復(fù)性。
  熱釋光讀出器的線性加熱方式測量過程分為三個階段:
  一階段:讀出前的預(yù)熱,預(yù)熱的目的是為了消除發(fā)光曲線的低溫峰,即排空低能陷阱中的電子,其電子釋放的溫度和熱釋光探測器的發(fā)光曲線低溫峰峰值溫度有關(guān)。
  二階段:讀出測定峰。其溫度需根據(jù)探測器的測定峰的峰值溫度來確定。
  三階段:讀后(輻照前)的退火。此種處理的目的是為了排除探測器中的全部殘余信號和恢復(fù)晶格中陷阱的分布,以便恢復(fù)探測器原有的熱釋光劑量特性(發(fā)光曲線的形狀、靈敏度)。對于加熱器本身,應(yīng)具備以上三個階段。在一個可控制的熱處理周期中連續(xù)進行預(yù)熱、讀出和退火熱處理。

熱釋光讀出器

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